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Titre :	Développement, programmation et validation d’un banc de test ICT (in-circuit test) pour une carte CPU.
Type de document :	Travail de fin d'études
Auteurs :	Deniz Soysal, Auteur ; Manuel Legaye, ; François Defrance,
Editeur :	ECAM
Année de publication :	2021
Note générale :	GENITEK Engineering
Langues :	Français (fre)
Index. décimale :	TFE - Electronique
Résumé :	L’objectif de ce travail de fin d’études est de concevoir et développer un banc de test de type lit à clous permettant de tester électriquement une carte CPU en fin d’assemblage.

Développement, programmation et validation d’un banc de test ICT (in-circuit test) pour une carte CPU. [Travail de fin d'études] / Deniz Soysal, Auteur ; Manuel Legaye, ; François Defrance,  . - ECAM, 2021.
GENITEK Engineering
Langues : Français (fre)

Index. décimale :	TFE - Electronique
Résumé :	L’objectif de ce travail de fin d’études est de concevoir et développer un banc de test de type lit à clous permettant de tester électriquement une carte CPU en fin d’assemblage.