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Développement, programmation et validation d’un banc de test ICT (in-circuit test) pour une carte CPU. / Deniz Soysal 

Public ISBD Titre : Développement, programmation et validation d’un banc de test ICT (in-circuit test) pour une carte CPU. Type de document : Travail de fin d'études Auteurs : Deniz Soysal, Auteur ; Manuel Legaye, ; François Defrance, Editeur : ECAM Année de publication : 2021 Note générale : GENITEK Engineering Langues : Français (fre) Index. décimale : TFE - Electronique Résumé : L’objectif de ce travail de fin d’études est de concevoir et développer un banc de test de type lit à clous permettant de tester électriquement une carte CPU en fin d’assemblage. Développement, programmation et validation d’un banc de test ICT (in-circuit test) pour une carte CPU. [Travail de fin d'études] / Deniz Soysal, Auteur ; Manuel Legaye, ; François Defrance,  . - ECAM, 2021. GENITEK Engineering Langues : Français (fre) Index. décimale : TFE - Electronique Résumé : L’objectif de ce travail de fin d’études est de concevoir et développer un banc de test de type lit à clous permettant de tester électriquement une carte CPU en fin d’assemblage.

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